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      • 台式TWE测试仪
      • 立式TWE测试仪

      TWE 透射波前差测试机

      TWE测量仪器使用双光路测量模式,具备高精度、高动态范围和大像差直接测量能力,可快速切换光路类型,对各类光学元件(如透镜、滤光片、平面玻璃等)的透射波前质量进行精确表征与质量控制。

      准直光穿过被测光学元件后,其理想的平面波前会因元件内部及表面的不均匀性而产生畸变。TWE测量机将这种波前畸变转换为可检测的光强分布图像,通过专用算法实时重建出完整的波前相位图,从而精确量化出波前误差的PV值、RMS值、PSF、MTF等关键参数。

      • 400-1100nm
        波长范围
      • 5.02×3.75mm
        孔径尺寸
      • <2 nm RMS
        测试分辨率(相位)
      vs
      加入对比
      • 台式TWE测试仪
      • 产品优势

      • 产品参数

      • 应用解决方案

      产品优势

      • 高精度波前测量

        支持10nm RMS解析度,精准捕捉光学元件的波前信息与成像质量

      • 多功能测试平台

        兼容平面与透镜类产品,支持快速更换Holder设计,适配不同规格产品测量需求

      • 非接触式快速检测

        采用高稳定性光学系统,采集速度快,结果重复性高

      • 定制化波长与输出

        支持多波段切换测试,并一键输出定制报告图表

      • 集成紧凑高效

        模块化设计节省空间,搭配可视化软件界面,操作更直观高效

      产品参数

      系列型号
      • 台式TWE测试仪
        vs
      • 波长范围
      • 孔径尺寸
      • 空间分辨率
      • 相位分辨率
      • 台间差
      • 绝对精度
      • 采集速度
      • 实时处理速度
      • 电路规格
      • 外观尺寸
      • 重量
      • 通讯接口
      • 气压
      • 温度
      • 湿度
      • 洁净度
      • 台式TWE测试仪

        • 波长范围
          400 ~ 1100 nm
        • 孔径尺寸
          5.02 mm × 3.75 mm
        • 空间分辨率
          27.6 μm(依扩束镜而定)
        • 相位分辨率
          <2 nm RMS(依扩束镜而定)
        • 台间差
          PV: 15-20 nm;RMS: 0-4 nm
        • 绝对精度
          10 nm RMS
        • 采集速度
          60 FPS
        • 实时处理速度
          10 FPS(全分辨率)
        • 电路规格
          电源:AC 220 V,50 Hz
          功率:100 W
          额定电流:0.5 A(Max 1A)
        • 外观尺寸
          430 mm × 430 mm × 884.5 mm
        • 重量
          55 kg
        • 通讯接口
          以太网口,USB 3.0
        • 气压
          0.5-0.7 Mpa,Φ10 mm
        • 温度
          15-35°C
        • 湿度
          40 ~ 65%
        • 洁净度
          100/1000/10000 级

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